Hakkımızda
▼
Hakkımızda
Araştırma alanları
Ekibimiz
Cihazlar
Yayınlar
Araştırma Grupları
Duyurular
JP
EN
Hakkımızda
Araştırma alanları
Duyurular
Ulaşım
Bağlantı
İletişim
Site haritası
Kullanım Koşulları
× Close
× Close
Yayınlar
Ana Sayfa
Yayınlar
High-resolution rapid elemental analysis using an XRF micro-scanner
High-resolution rapid elemental analysis using an XRF micro-scanner
Journal of Sedimentary Research, 75, 824-829(2003)
Yazar
Koshikawa, T., Kido, Y., and Tada, R.
Kategori
Hakemli Dergi